AOI 검사데이터 하루 12만 건, 수기에서 자동으로
PCB 양산 라인의 AOI·X-ray 검사결과를 i-MEPS에 직결해 SPC 자동집계·원인분석까지 10분 안에
E社는 IT·가전용 PCB를 양산하는 전자부품 제조사입니다. 하루 12만 건 넘게 쏟아지는 AOI·X-ray 검사 데이터를 사람이 일일이 엑셀로 정리하다 보니, 공정 이상이 감지되는 시점은 이미 불량이 수천 장 쌓인 뒤였습니다.
"불량이 쌓인 뒤에야 알 수 있었다"
AOI 검사장비가 OK/NG 판정을 내려도, 그 결과가 공정 관리자에게 도달하는 건 다음 날 오전 회의였습니다. 그동안 같은 원인의 불량이 밤새 반복됐고, 책임 공정을 찾는 데만 반나절이 지났습니다.
더 큰 문제는 모델 교체가 잦다는 점이었습니다. 하루 3~4회 생산 모델이 바뀌면 검사 기준과 BOM을 매번 다시 세팅해야 했고, 교체 오류로 인한 불량이 적지 않았습니다.
구체적으로 어떤 문제였는가
- 하루 12만 건 검사 데이터 수기 정리 — 반영까지 12~24시간 지연
- 동일 원인 불량 반복 발생 — 야간 조 기준 평균 3,000장 누적
- 모델 교체 시 기준값 오설정으로 인한 초기 불량
- 품질 회의는 전날 데이터 기준 — 실시간 의사결정 불가
검사장비 직결 + SPC 자동화, 8주 만에 안정화
지엔디비즈는 AOI/X-ray 장비의 결과 데이터를 i-MEPS에 직접 연동하고, 모델별 SPC 관리 한계를 i-MEPS 안에서 자동 산출하도록 구축했습니다. 이상 신호가 관리 한계를 벗어나면 공정 관리자 모바일로 즉시 알림이 들어갑니다.
모델 교체는 "레시피 호출 한 번"으로 기준값·BOM·검사 조건이 일괄 반영되도록 표준화했습니다. 8주 만에 교체 실수로 인한 초기 불량이 사실상 0건이 됐습니다.
실제 구축한 것
- i-MEPS 품질관리 모듈 + AOI/X-ray 검사장비 직결
- 모델별 SPC 관리 한계 자동 산출 · 이상 즉시 알림
- 레시피 기반 모델 교체 체계 (검사 조건 · BOM 일괄 호출)
- 공정별 불량 원인 집계 대시보드
- 이상 발생 시 공정 관리자 모바일 Push
6개월 운영 후 숫자
검사 집계
수기자동
자동화
이상 감지 지연
12~24h1분 이내
-99%
불량률
1.8%0.9%
-50%
모델 교체 시간
2시간20분
-83%
교체 초기 불량
월 12건0건
-100%
품질 회의 주기
익일실시간
전환
예전에는 "어제 무슨 일이 있었죠?"로 회의가 시작됐어요. 이제는 "지금 3라인에서 SPC 한 번 넘어갔는데 조치했습니다"로 시작합니다.